Caractériser l'électronique flexible en 3D
L'électronique flexible ouvre un champ de nouvelles applications dans les domaines des composants portables, des cellules solaires à couche mince, des RFID et des écrans utilisés dans les tableaux de bord automobiles ou les applications médicales. Pour tous ces cas d'utilisation, la fiabilité du produit est un indicateur de qualité essentiel. On constate également une demande croissante d'harmonisation des composants pour le traitement des signaux, la communication et la production d'énergie. Pour ces applications, l'interférométrie en lumière blanche permet de balayer toute la surface de l'électronique flexible hybride en une seule fois. Cette méthode de mesure optique et non destructive permet de caractériser l'électronique imprimée au niveau des paramètres de forme, de la rugosité et des détails structurels et contribue à garantir la qualité et la fonctionnalité de l'électronique.
Paramètres de forme de rugosité de surface de l'électronique imprimée
Scanner les surfaces et évaluer les informations de hauteur en 3D permet une caractérisation rapide et fiable de l'électronique imprimée et flexible. Les solutions de métrologie de surface 3D de Polytec fournissent des données significatives pour la qualité de l'électronique et la stabilité du processus d'électronique imprimée. Le mode d'information couleur avancé permet de déterminer et de localiser les défauts.
Pour l'intégration en ligne et pour les processus de fabrication semi- ou entièrement automatisés de l'électronique flexible, les têtes de capteur TopMap peuvent être facilement intégrées dans les lignes de production, offrant des solutions personnalisées pour l'inspection en ligne. Sur demande, les utilisateurs peuvent gérer et charger des paramètres de mesure prédéfinis, permettant des inspections en un clic au niveau de la production en utilisant des recettes de mesure. Nos experts de Polytec sont heureux de vous aider à toutes les étapes du projet, comme le développement de routines et d'évaluations personnalisées, en utilisant l'architecture logicielle ouverte.
Pour plus d'informations sur la façon de maîtriser le collage électro conducteur de l'électronique flexible, visitez la section Polytec PT pour les solutions de technologie polymère.
Caractérisation de la micro électronique
Related products
TopMap Micro.View
TopMap Micro.View® is an easy to use and compact optical profiler. Choose Micro.View® as the cost-effective quality control solution for surface analysis of precision-engineering, for inspecting roughness, microstructures and more surface details.
TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ is the next generation optical surface profiler in a modular design to reliably measure the most challenging analysis tasks regarding surface finish and microstructures with utmost precision. Focus Finder and Focus Tracker assist in keeping samples focused at all times, with fully motorized positioning units ready for automation. Find out more!
TopMap Pro.Surf+
The all-in-one 3D optical surface profiler from Polytec. The precision of a white-light interferometer, complemented by chromatic confocal sensors to overcome form deviations and any roughness determined with one device. Pro.Surf+ measures topography over a large area and, in so doing, characterizes structures with nanometer resolution.
Further applications in electronics, semiconductors and solar
- Ball grid array (BGA)
![bump measurement on a ball grid array (BGA) as 3D profile]( "bump measurement on a ball grid array (BGA) as 3D profile")
bump measurement on a ball grid array (BGA) as 3D profile - Mobile devices
![Production testing of components for mobile devices using 3D optical surface metrology]( "Production testing of components for mobile devices using 3D optical surface metrology")
Production testing of components for mobile devices using 3D optical surface metrology - Pass/fail analysis
![Multi-sample pass-fail analysis in manufacturing]( "Multi-sample pass-fail analysis in manufacturing")
Multi-sample pass-fail analysis in manufacturing - Surface parameters
![Surface parameter characterizing the form, waviness and texture of a workpiece]( "Surface parameter characterizing the form, waviness and texture of a workpiece")
Surface parameter characterizing the form, waviness and texture of a workpiece
