硬盘驱动上的读/写头

测量写/读头的表面参数

硬盘驱动上的读/写头是一个极其复杂的组件。即使在研发阶段，检查各种表面参数以确保之后一切操作的顺利进行都是非常重要的。

Polytec 表面测量系统允许您一次性捕获读/写头的整个表面，不仅节省时间，而且还能可靠且轻松地分析各种组件的高度差异。平面度特征也不会造成任何问题。根据要求，可以使用大面积测量系统或显微镜系统来测量粗糙参数。