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Polytec 光学表面计量系列包括创新型、非接触式高精度工具。它们均基于白光干涉测量原理，也称为相干或垂直扫描干涉法或相干雷达。由于垂直距离大，纳米分辨率高，非常适合几乎所有材料的大型表面和结构的平整度、台阶高度和平行度的非接触式测量。
如果您想在研究实验室、生产过程和如生产控制之类具有挑战性的环境中测量精确制造的表面，白光干涉法是最理想的解决方案。
Polytec 高科技振动测量工具的本质是数据采集、可视化和评估。为此，Polytec 为您提供了用于设备控制、数据采集和数据处理的高性能软件包，使用户能够以直观和动画的方式表示其测量结果，并与外部软件交换用于实验模态分析或 FEM 计算的数据。
