Contrôler l'étanchéité de manière sans contact
L'état des surfaces d'étanchéité joue un rôle déterminant dans l'absence de fuite sur des connexions à long terme. Les propriétés géométriques de la surface doivent donc être définies le plus précisément possible, afin de répondre à la fonction prévue, à savoir l'étanchéité. Les variations de forme des surfaces peuvent provoquer des fuites si elles sont hors tolérances. Les systèmes de mesure de surface de Polytec permettent de prévenir ce risque. Vous pouvez donc caractériser l'étanchéité en laboratoire mais également pendant la fabrication. La technologie de mesure sans contact permet de préserver la forme et la cohérence des surfaces d'étanchéité à contrôler. Les résultats de mesure peuvent être répétés à tout moment. Les systèmes Polytec sont faciles à utiliser et vous donnent une analyse rapide.
Polytec Magazine
Surface metrology tailored to your QC needs
Confirm flatness, roughness and step height
Les inspections de surface dans les temps de cycle
Tout au long du processus de fabrication, même lorsque des cadences strictes doivent être respectées, les systèmes de mesure de surface de Polytec sont adaptés. C’est souvent le cas notamment dans le secteur de l’automobile. Par exemple, pour les systèmes d'injection, les systèmes Piezo-Common Rail, les compresseurs et le développement de moteur en général.
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TopMap Micro.View® est le profilomètre optique 3D compact et facile à utiliser avec 100mm de plage de mesure verticale. Micro.View® est la solution de contrôle qualité économique pour l'analyse de surfaces de précision et textures, la mesure de rugosité, microstructures et l’inspection de détails de surface.
TopMap Micro.View+
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TopMap Pro.Surf
Système de mesure optique pour une caractérisation rapide et à grand champ optique des surfaces en 3D. La mesure surfacique du TopMap Pro.Surf permet de détecter tous les détails géométriques et structurels lors de l'inspection de la surface de la pièce. Le TopMap Pro.Surf se caractérise par des mesures très rapides pour des temps de cycle courts et un grand champ optique.
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