Topographie combinée du haut et du bas en une seule prise de vue
La fonctionnalité et la qualité des composants fabriqués industriellement dépendent de processus d'usinage bien contrôlés et bien surveillés. Le contrôle de la qualité, l'inspection de la qualité à proximité de la ligne ou en ligne utilisent souvent la métrologie des surfaces pour évaluer la forme, la rugosité et d'autres paramètres de surface. Parfois, l'examen combiné des faces avant et arrière d'une pièce est indispensable pour une analyse complète de la qualité.
Désormais, Polytec améliore la perspective pour des résultats de mesure valides, en fournissant une topographie combinée du dessus et du dessous en une seule mesure, mais directe et surfacique.
Besoin d'une topographie du haut et du bas ?
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Topographie 3D des surfaces avant et arrière
Parfois, l'examen combiné des faces avant et arrière d'une pièce est indispensable pour une analyse complète de la qualité. Pour ce faire, il peut être nécessaire d'échanger ou de retourner l'échantillon, d'utiliser une surface de référence supplémentaire comme mesure indirecte ou d'appliquer deux capteurs, chacun d'un côté. Chaque approche peut entraîner une incertitude de mesure supplémentaire.
Le nouveau module de mesure FTP de Polytec pour la planéité, l'épaisseur et le parallélisme représente la solution de mesure rapide et complète pour évaluer la planéité, l'épaisseur et le parallélisme en même temps. Le module de mesure FTP pour les mesures arrière et avant peut changer la donne dans le contrôle de qualité de la mécanique de précision, par exemple dans l'industrie horlogère, pour les surfaces d'étanchéité, les bagues de calage ou les composants optiques et bien d'autres choses encore.
Retourner ou échanger l'échantillon
Dans certains cas, les faces avant et arrière peuvent être mesurées en retournant l'échantillon. Cette opération est généralement réalisée par une unité de rotation et nécessite une procédure d'alignement complexe. Le concept FTP de Polytec mesure sans rotation, ni retournement, évitant ainsi un alignement supplémentaire de l'échantillon pour une opération plus rapide et plus simple.
Nous fournissons la planéité, l'épaisseur et le parallélisme en une seule fois.
Mesures indirectes ou directes
Les mesures indirectes utilisent une surface de référence pour caractériser l'arrière d'un échantillon en raison de l'impossibilité d'accéder à la surface originale de l'échantillon. Ces procédures standard conduisent souvent à des mesures séquentielles fastidieuses d'une pièce. De plus, les résultats reposent sur l'hypothèse que la surface de référence est parfaite.
Densité des données en fonction du profilage linéaire ou surfacique
Les évaluations courantes basées sur un point unique ou un profil linéaire ne peuvent recueillir qu'un nombre limité de points de mesure de la surface réelle en 3D (aréolaire). Il en résulte des procédures fastidieuses et le sacrifice d'une plus grande densité de points ou d'un meilleur rendement. L'approche de mesure combinée FTP de Polytec permet d'effectuer des mesures sans contact, à haute densité de données ou des mesures aréolaires à partir des vues de dessus et de dessous en une seule mesure.
Produits associés
TopMap Pro.Surf
Système de mesure optique pour une caractérisation rapide et à grand champ optique des surfaces en 3D. La mesure surfacique du TopMap Pro.Surf permet de détecter tous les détails géométriques et structurels lors de l'inspection de la surface de la pièce. Le TopMap Pro.Surf se caractérise par des mesures très rapides pour des temps de cycle courts et un grand champ optique.
TopMap Pro.Surf+
La solution de métrologie optique 3D tout-en-un de Polytec. Cet interféromètre ultra précis à lumière blanche combine un capteur confocal chromatique pour les profils de rugosité avec une mesure surfacique des paramètres géométriques et de la déviation de forme dans un système multi-capteurs. Pro.Surf+ est la solution idéale pour mesurer la topographie de grands échantillons avec un large champ de vision (FOV) tout en caractérisant les détails structurels avec une résolution de l'ordre du nanomètre.
