Caractérisation dynamique 3D et mesure de topographie des MEMS
La topographie de surface, l'analyse et la visualisation des comportements dynamiques sont essentielles pour tester et développer des microstructures telles que les dispositifs MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems). Elles sont indispensables pour valider les calculs FE et mesurer la déformation de la surface. L’analyseur de microstructures MSA-600, station de mesure optique tout-en-un, permet de caractériser la topographie de surface ainsi que les mouvements dans le plan et hors plan.
Les versions MSA-600-M/V couvrent les gammes de fréquences jusqu'à 25 MHz, idéales pour les MEMS comme les microphones MEMS et autres microsystèmes. Les versions MSA-600-X/U couvrent la gamme des hautes et très hautes fréquences jusqu'à 2,5 GHz, parfaite pour la validation des résonateurs MEMS HF, des dispositifs micro-acoustiques tels que SAW, BAW et autres.
NOUVEAU:
Le MSA-600-S est la station de mesure optique spécialement conçue pour l'analyse des vibrations en temps réel à 8 GHz et l'analyse de la topographie de surface. Elle est idéale pour tester les MEMS à GHz comme les FBAR (résonateurs acoustiques à film), les filtres BAW (bulk acoustic wave) et les dispositifs SAW (surface acoustic wave).
Points forts
- Station de mesure optique tout-en-un pour les microstructures
- Mesures de réponse en temps réel (aucun post-traitement requis)
- Versions MSA-600-M/V pour les fréquences allant jusqu'à 25 MHz
Versions MSA-600-X/U pour les fréquences jusqu'à 2,5 GHz
- NOUVEAU MSA-600-S : bande passante étendue à 8 GHz
- Résolution de déplacement sub-pm inégalée
- Mesure rapide et visualisation des déformées 3D
- Fonctionnement simple et intuitif
- Système automatisé pour une intégration facile sur stations sous pointes
- Options d'importation / exportation pour la validation du modèle FE
Solution de mesure optique tout-en-un pour MEMS
L’analyseur de microstructures MSA-600 offre une flexibilité et une précision de mesures accrues. Il s'adapte aux besoins des microstructures d'aujourd'hui et de demain. Cet équipement fournit des données de réponses dynamiques et statiques 3D précises qui augmentent les performances des microstructures tout en réduisant les coûts de développement et de fabrication. Ainsi, le MSA-600 améliore et réduit les cycles de conception et simplifie l’analyse des défaillances.
La vibrométrie laser Doppler offre une mesure rapide et en temps réel avec une résolution de déplacement sub-pm. L’interféromètre à lumière blanche fournit des millions de données de surface 3D en quelques secondes. Complété par son fonctionnement simple et son interface utilisateur intuitive, le MSA-600 est la solution de mesure sans contact pour la R&D et le contrôle qualité. Compatible avec les stations sous pointes du commerce, l'analyseur de microstructures vous aide à toutes les étapes du développement - du prototypage MEMS au test et à l’analyse de défaillance- et vous aide ainsi à réduire les coûts de production et accélérer la mise sur le marché de vos composants.
Solution de test spécialisée 8 GHz pour les MEMS GHz
La MSA-600-S est la première station de travail de mesure optique spécialisée permettant l'analyse des vibrations et la caractérisation des surfaces jusqu'à 8 GHz ! Utilisez la MSA-600-S pour le développement de dispositifs à GHz, pour le contrôle de la qualité nécéssaire a l'évaluation des paramètres de forme, et pour les tests de performance et de fiabilité des dispositifs. Il permet de tester des dispositifs haute fréquence tels que les FBAR (résonateurs acoustiques à film) et d'autres résonateurs et dispositifs GHz.
Wafer-level and single-die testing
Accessoires et composants
Accessoires optiques
A-MOB-xxxx : Objectif champ clair
Pour la mesure des vibrations hors plan et dans le plan. Grossissements disponibles : 1x, 2x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x et 3,6x, 10x pour les grandes distances de travail.
Trépieds, bancs d'essai, platines de positionnement
A-STD-TST-01 : Banc d'essai
Banc d'essai offrant un grand espace de travail. Avec axe z motorisé, course 200 mm.
A-STD-BAS-02 : Banc d'essai
Support rigide pour la tête du capteur. Comprend un bloc de mise au point manuelle avec une plage de déplacement de 100 mm avec un entraînement grossier et fin. Interfaces avec les tables optiques disponibles dans le commerce.
A-STD-F50 : Bloc de mise au point
Plage de déplacement 50 mm. Avec entraînement grossier et fin pour le réglage manuel de l'axe z de la tête du capteur. Interfaces avec les stations de sonde de wafer disponibles dans le commerce.
Table anti vibration, platine
A-TAB-AIR-01 : Table anti vibration active
Table anti vibration à amortissement pneumatique avec réglage actif du niveau. Compatibilité : banc d'essai A-STD-TST-01, support de base A-STD-BAS-02.
A-TAB-ELC-01 : Table anti vibration active
Stabilisation de la bobine acoustique à commande électronique pour des performances d'isolation maximales. Compatibilité : banc d'essai A-STD-TST-01, support de base A-STD-BAS-02.
A-BBO-ME02 Breadboard
Breadboard avec motif de trous métrique. Empreinte 900 mm x 600 mm. Compatibilité : support de base A-STD-BAS-02.
A-AVI-MELA : Breadboard d'isolation active des vibrations
Contrôlé électroniquement des performances d'isolation vibratoire les plus élevées. Avec motif de trous métrique. Empreinte 600 x 800 mm. Compatibilité : support de base A-STD-BAS-02.
Autres
A-ESG-001 : Générateur de signaux externes
Pour l'excitation d'échantillons à large bande et à haute fréquence. Contrôlable à distance par le logiciel PSV.
A-SPK-0008 : Module de sonde de Wafer
Avec l'étage de positionnement XY A-PST-200P, le module sondeur de wafer forme une plate-forme motorisée pour la mise en contact électrique et la mesure de haute précision de plaquettes et de substrats jusqu'à 200 mm de diamètre.
A-SPK-0010 : Module de sonde à vide
Accessoire sous vide et ligne de purge. Micro-manipulateur pour la manipulation de quatre sondes électriques.
Produits associés
Analyseur de microstructures MSA-650 IRIS
L'analyseur de micro-systèmes innovant et breveté MSA-650 IRIS avec caméra IR dédiée et source SLD permet de mesurer la véritable dynamique des MEMS jusqu'à 25 MHz en caractérisant les mouvements dans le plan et hors du plan à travers l'encapsulation de silicium sans contact, sans qu'il soit nécessaire de préparer ni de décapsuler le dispositif.
Analyseur de microstructures 3D MSA-100
L'analyseur de microstructures saisit simultanément des composantes vibratoires dans les trois directions spatiales. Le système de mesure optique permet une analyse vibratoire 3D à haute résolution du courant continu jusqu'à 25 MHz avec des résolutions d'amplitude de l'ordre du sous-picomètre, pour les composantes vibratoires dans le plan et hors du plan.
Analyseur de microstructures MSA-060
Utilisez le MSA-060 pour entrer dans le monde de l'analyse des microsystèmes. Enregistrez et visualisez les vibrations et la dynamique de petits composants et microsystèmes avec une précision laser sur toute une surface, de DC à 24 MHz. Les analyseurs de microsystèmes utilisent des lasers de mesure qui révèlent la véritable dynamique des petits composants sans contact et de manière non invasive.
Logiciel PSV
Le logiciel PSV est le cœur de chaque vibromètre laser à balayage Polytec. Ce logiciel complet permet l'acquisition, l'affichage et l'édition rapides et simples des données de mesure des vibrations recueillies avec tous les vibromètres à balayage PSV, avec la gamme d'équipement pour les microstructures MSA pour les observations microscopiques ou avec la station de test automatisée RoboVib®.