台式光学表面轮廓仪
TopMap Micro.View是易于使用且紧凑的光学轮廓仪。 结合卓越的性能及实惠价格并具有强大的计量解决方案并。Micro.View的垂直测量范围可扩展到100 毫米和CST连续扫描技术，可在纳米分辨率下测量复杂的形貌。 这种便捷的桌面设置具有集成的电子设备，并带有智能聚焦查找器，可简化并加快测量过程。
亮点
- 在紧凑的装置中测量表面光洁度
- 非接触式3D地形，粗糙度和纹理的测量
- 采用CST连续扫描技术可达到100毫米垂直测量范围
- 高超的横向分辨率
- 可从特定于应用程序中选择
用于表面表征的显微镜测量系统
白光干涉仪可捕捉精密表面最精细的结构细节。 我们基于显微镜的轮廓仪可表征表面纹理并量化工件表面的粗糙度或光滑度。 利用电动测量、自动定位和自动对焦查找器，让您可以专注于质量。
面积小但具有功能扩展
受益于可选的ECT环境补偿技术，即使在嘈杂和充满挑战的生产环境中，也能确保可靠和准确的测量结果。 Micro.View是一种经济有效的质量控制仪器，用于在制造和研究中检查精密的工程表面。
TopMap Micro.View是您可以信赖的精密测量技术。相信我们的经验，相信我们的专业知识，相信我们的专家。了解更多关于产品研发的幕后故事。快来加入我们的旅程吧
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