光学 3D 表面测量的服务与支持

warranty on new profilers

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satisfied customers worldwide

awards in optical technology

Polytec 光学表面计量技术可对精密表面进行全面表征，以亚纳米 Z 分辨率分析粗糙表面（如数控加工或快速成型零件）以及光滑表面（如晶片和光学元件）的微观结构。我们关注细节。作为总部位于德国南部的光学测量技术先驱，Polytec GmbH 致力于建立可持续的合作伙伴关系。我们的综合服务可满足任何制造业的核心要求：

责任
精确性
可靠性

加入生产流程和质量控制的变革，面向未来，在充满挑战的市场中确保您的领先地位。

我们关心您的问题 - 我们能提供哪些帮助？

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我们的 PolyXpert 服务让客户满意

4 年保修

Polytec 为其表面测量系统的耐用性和性能提供独特的 4 年保修服务，体现了我们对光学轮廓仪质量和使用寿命的信心。

TopMap Pro.Surf detecting form deviation on precision surfaces with white-light

测量服务和租赁

我们的 PolyXperts 专家期待着在我们的现代化实验室或您的现场（也可以远程在线会话）为您提供灵活的定制测量服务！我们很乐意在任何阶段为您提供指导和咨询。除外包服务外，您还可以租用我们的设备，在更短的时间内扩展您的能力。

Wir bündeln die relevanten Messergebnisse Ihrer Machbarkeitsstudie im Detail so für Sie, dass wir eine gemeinsame Diskussionsgrundlage haben für das unverbindliche abschließende Gespräch.

培训

我们的全球团队在该领域平均拥有超过 15 年的经验，在精密机械、半导体、光学元件等的表面检测方面拥有无与伦比的知识。我们可根据要求提供定制培训，帮助您充分利用投资。请告诉我们您的主题和需求！

TopMap Pro.Surf+ automated measurement of form parameters and surface roughness

定制

有时，我们的 44x33 毫米大视场（拼接 230x220 ）还不够，或者您需要特定的样品夹具或隔振装置。有时，我们的 CST 连续扫描技术（垂直测量范围高达 100 毫米）只是您难题中的一部分。有时，我们的 <nm 分辨率地形图需要更多的洞察力和评估。我们提供定制软件+硬件+光学器件的一站式服务，无论是定制参数还是实施测量程序，我们都会根据您的要求对表面形貌解决方案进行微调。

Calibration of Polytec Instruments

调试和现场支持

正在计划下一个项目，在早期阶段需要帮助？我们随时准备协助您进行定制集成，使用大量特定应用的附件组合，真正满足您的质量控制任务需求。我们还可以帮助您进行专业的现场调试，并从机械到数据集成为您提供支持。

TopMap Micro.View with innovative continuous scanning technology

CST Continuous Scanning Technology allows to use the entire 100 mm positioning range as measurement range

安排校准和维护时间

无懈可击的质量管理、符合 ISO:9001 或其他标准？计划下一步行动，确保安全。预定的校准和维修通常在两个工作日内完成。我们提供校准服务和持续维护支持，以确保光学传感器的最佳性能。

定制测量服务与支持

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Kostenlose und unverbindliche Machbarkeitsstudie

免费可行性研究和演示

加入我们，改变您的生产流程和质量控制，确保您在充满挑战的市场中的领先地位。我们在您的真实样品上进行演示并收集测量数据，让您了解什么是可能的。我们测量您的样品表面 - 发送您的样品！因为我们相信长期的相互合作关系，所以最初的可行性研究是免费的。

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In Measurement System Analysis (MSA) the measurement uncertainty (b > a) leads to an increase in the observed process variation as well as in the areas at the tolerance limits in which no reliable decision can be made.

Based on n measured values x, the capability figures Cg and Cgk are determined providing a ratio between the tolerance T and the variation caused by the measurement equipment (standard deviation s)

To determine the GRR value in Measurement System Analysis, several measurement objects are measured several times by several operators

In Measurement System Analysis (MSA) the measurement uncertainty (b > a) leads to an increase in the observed process variation as well as in the areas at the tolerance limits in which no reliable decision can be made.

Based on n measured values x, the capability figures Cg and Cgk are determined providing a ratio between the tolerance T and the variation caused by the measurement equipment (standard deviation s)

To determine the GRR value in Measurement System Analysis, several measurement objects are measured several times by several operators

下载免费指南：测量系统分析

无论是触觉式还是光学式表面轮廓仪，每次测量都存在不确定性。获得的测量值是质量控制生产的基础，因此也是质量保证的关键组成部分。然而，通过测量得出的任何结论是否正确，不仅取决于参数是否合适，还取决于测量值能否准确可靠地反映实际情况。只有当测量值的不确定性与特性公差的关系足够小时，测量过程才适合检测任务。本文介绍了测量系统分析 (MSA) 的方法和有用的能力数据。

在免费指南中了解如何处理质量保证中的测量不确定性！