OK / nOK解析

工業プロセスでは、厳しい公差を遵守した高精度な製造工程が求められています。今日のインライン測定技術は、この厳しい交差を常に遵守しなければならず、高精度な測定機器を使用すれば、製品の高い品質の維持を実現できます。

インラインアプリケーションとして生産ラインに組み込み可能な光学表面測定システムは、生産工程において欠陥部分を検出できます。これらの結果は、生産工程の効率化に役立ちます。つまり生産ライン内の「PASS/ FAIL解析」はコストと原材料の大幅な節約にも役立ちます。

ポリテックの白色光干渉計を使用すると、迅速な非接触表面形状測定が可能です。製品の形状は、通常あらかじめ定められた基準値と比較され、検証されます。広範な面積であっても、ポリテックの表面測定システムは、最適なソリューションを提供します。