レーザドップラ振動計

シングルポイントレーザドップラ振動計

シングルポイントレーザドップラ振動計は、レーザを照射するだけで、伝達関数や振幅、共振周波数を非接触で測定します。レーザの照射方向と同軸の振動を測定することができます。 このような振動は「面外振動」と呼ばれています。ポリテックのシングルポイントレーザドップラ振動計は、アプリケーションに合わせてセンサヘッドを選択できるモジュールタイプから、ポータブルタイプ、センサとコントローラが一体化したコンパクトモデル、工業用の堅牢設計モデルまで、お客様の振動測定の課題を解決する理想的な測定ツールを提供しています。測定周波数帯域はキロヘルツ、さらにメガヘルツオーダーを網羅しています。

スキャニングレーザドップラ振動計

スキャニングレーザドップラ振動計は、測定物の表面をレーザが走査することにより、複雑な振動挙動も非接触・非破壊で計測し、振動モードを可視化します。このポリテックのスキャニングレーザドップラ振動計は、振動する構造物の音響特性やダイナミクスを包括的かつ高精度に把握することで、開発期間を大幅に短縮するR&Dツールとして確立されています。高精度なデータに基づき、固有モードや実稼働振動形状を可視化することで、FE モデルの検証を一段上のレベルに引き上げます。スキャニングレーザドップラ振動計は、センサヘッド、データ収集、解析ソフトウェアなど、さまざまなアップグレードオプションが用意されています。お客様のご要望に応じて、ポリテックのスキャニングレーザドップラ振動計をステップバイステップでアップグレードし、DCからメガヘルツ領域まで、完全自動化された試験ソリューションに拡張することができます。 ポリテックには、赤外線 （SWIR） レーザ、FPGA ベースのデジタル信号処理、特許取得済みのマルチパス干渉計 （QTec） など、非接触振動計で最高の性能を実現するための先進技術があります。

顕微鏡型レーザドップラ振動計

ポリテックのマイクロシステムアナライザは、MEMSのダイナミクスと形状の両方を測定することができる理想的な顕微鏡型システムです。

MEMSなどの電子デバイスは、電気テストで、デバイスが動作しているかどうかは証明できますが、デバイスがどう動作しているか、その正確な動きを見るには、レーザドップラ振動計しか手段がありません。また、小型軽量化、高周波駆動化する昨今では、非接触測定が可能で、かつ、キロヘルツ、メガヘルツ、さらにギガヘルツの高周波帯域でも、ナノピコ分解能で高精度に振動変位を測定できるレーザドップラ振動計は、必須のテスティングツールであると言えます。

さらにマイクロシステムのダイナミクスだけでなく形状もナノメートル精度で測定します。伝達関数の測定はもちろん、マイクロシステムの静的および動的な 3D 特性評価、Si 封止MEMSの測定、（真空）プローブステーションへの統合が可能な、ユニークなオールインワンソリューションです。

特殊用途向けレーザドップラ振動計

特別な測定ニーズには、特別な測定ツールが必要です。超高周波領域の超音波アプリケーション、回転構造物の回転振動、測定ビームに垂直な面内振動の測定など、ポリテックのレーザドップラ振動計は完璧なソリューションを提供しています。

ソフトウェア

ポリテックのソフトウェアは、システムの制御、データの記録と処理、測定結果のアニメーション表示、モーダル解析やFEM計算などの目的で外部ソフトウェアとのデータ交換などができます。"Polytec Update"は、ソフトウェアの修正や最新版のアップデートについて知らせるツールです。

アクセサリ

ポリテックでは、ポリテックの振動計をより快適に、より効率的にご使用いただくための、測定要求に適したアクセサリを準備しています。

サービス＆サポート

ポリテックは、先進の非接触測定テクノロジーを必要とされるすべての皆様に活用していただくために測定/レンタルサービスをご用意しております。また、ユーザのお客様には、専用トレーニングやアプリケーションサポートサービスをご提供させていただいております。