測定・評価が簡単かつスピーディに
ポリテックの白色干渉計システム TMS 表面形状計測システムの 専用ソフトウェア TMS software の 最新バージョンは、より簡単に、よりスピーディに測定結果を評価できるようになりました。特長的な機能
- 試料表面の干渉縞を自動検出する Interference Finder 機能
異なる反射もしくコントラスト特性を有する測定面の走査技術がよりスマートに - フィルタの自動処理
- マスク、プロファイル、レイヤーでの作業が可能に
- 2D および 3D データ表示可能で多くの異なる表面パラメータによる評価
- 特性値の多くは、QS-Stat などへエクスポート可能
- アプリケーションに対応した独自のタスク ユーザ インタフェースをアドオンで作成可能
- 球面マッチングや、高さ、層の厚さ、体積を決定するための幾何学的評価オプション
- 複数の測定データを合成するスティッチング機能において、測定が高速化し、さらに横方向の測定エリアが拡張
- レポート作成オプションの機能拡張
TopMapの「測定レシピ」コンセプトは、特定の測定タスクの取得設定(測定位置、照明設定、カメラパラメーターなど)とその評価パラメーター(後処理手順、視覚化の可能性、エクスポートオプション)の定義を大幅に簡素化します。 特に製造環境では、TopMapのレシピにより、包括的な表面解析が簡単なワンクリックタスクに変わります。
概要
フィルタの自動処理
マスク、プロファイル、レイヤーでの作業が可能に
2D および 3D データ表示可能で多くの異なる表面パラメータによる評価