SURFACES - das Magazin für die Oberflächenmesstechnik mit Anwendungen und User Stories herunterladen
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Profilometrie: Anwendungen & Einsatzgebiete

Die Profilometrie mit TopMap optischen Profilometern ist das berührungslose „Abstasten“ der 3D-Topografie mit Licht – und bietet somit eine schnelle und hochgenaue Oberflächencharakterisierung. Polytec bietet optische Messtechnik zur Analyse von Form, Oberflächenbeschaffenheit und Strukturdetails. Die berührungslose Profilometrie bei Polytec basiert auf der Weißlicht-Interferometrie und zeichnet sich durch flächenhaftes Scanning mit nm-Auflösung und großem Bildfeld aus. Einsatzgebiete der optischen Profilometrie sind weitverbreitet in Industrie und Forschungslabors. Unsere Kunden sind in der Automobilindustrie wie in Luft- und Raumfahrt, in Elektronik wie Halbleiterindustrie oder auch ausgeklügelter Biomedizin-Technik tätig. Finden Sie Anwendungsfälle der Profilometrie auf den Folgeseiten sowie in der "SURFACES" – Polytecs Magazin für optische Profilometrie.

  • Profilometrie an CNC-bearbeiteten Oberflächen, biomedizinischen wie elektronischen Bauteilen
  • Profilometrie gleichermaßen für matte, glänzende und raue Oberflächen
  • Profilometrie auf metallischen, beschichteten Oberflächen und Kunststoffen
  • Profilometrie mit großem Bildfeld (44x33 ... 230x 220mm) & nm-Auflösung

Wie lautet Ihre Mess-& Prüfaufgabe?

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"SURFACES"
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Magazin für Profilometrie (EN)

Optische Profilometrie zur Prüfung von Interferometern
Optische Profilometrie zur Prüfung von Interferometern

Applikationsnote (EN)

3D Topografie an Dichtflächen
3D Topografie an Dichtflächen

Applikationsnote (EN)

Profilometrie in der Additiven Fertigung (3D Druck)
Profilometrie in der Additiven Fertigung (3D Druck)

Applikationsnote (EN)

Optische Profilometrie an beschichteten Bauteilen
Optische Profilometrie an beschichteten Bauteilen

Applikationsnote (EN)

Profilometrie in industrieller Produktion
Profilometrie in industrieller Produktion

Broschüre

Profilometrie mit Weißlicht-interferometrie
Profilometrie mit Weißlicht-interferometrie

Broschüre

Profilometrie in der Lab-on-a-Chip Fertigung
Profilometrie in der Lab-on-a-Chip Fertigung

Interview

Oberflächenprofilometrie in Labor und Produktion

3D-Profilometrie zur berührungsfreien Messung von Formparameter
3D-Profilometrie zur berührungsfreien Messung von Formparameter
Höheninformationen auf gesamter Fläche als 3D-Profilometrie zur Auswertung von Stufen, Parallelität, Ebenheit und mehr
Höheninformationen auf gesamter Fläche als 3D-Profilometrie zur Auswertung von Stufen, Parallelität, Ebenheit und mehr
Schnelles, flächenhaftes und berührungsfreies Abscannen mit Weißlicht in einer Fertigungs-Testzelle
Schnelles, flächenhaftes und berührungsfreies Abscannen mit Weißlicht in einer Fertigungs-Testzelle
Mehrere Prüfligne im großen Bildfeld platzieren und in einem Schuss messen binnen Sekunden
Mehrere Prüfligne im großen Bildfeld platzieren und in einem Schuss messen binnen Sekunden
Profilometriemessung an Elektronikbauteilen, hier die Pins in Höhe, Konformität und Wölbungen der BGA (Ball Grid Array)/ Kugelgitteranordnungen für integrierten Schaltungen
Profilometriemessung an Elektronikbauteilen, hier die Pins in Höhe, Konformität und Wölbungen der BGA (Ball Grid Array)/ Kugelgitteranordnungen für integrierten Schaltungen
Wie wird eine Oberfläche beschrieben? Fließende Übergänge von Form, Welligkeit und Rauheit
Wie wird eine Oberfläche beschrieben? Fließende Übergänge von Form, Welligkeit und Rauheit
3D-Profilometrie zur berührungsfreien Messung von Formparameter
3D-Profilometrie zur berührungsfreien Messung von Formparameter
Höheninformationen auf gesamter Fläche als 3D-Profilometrie zur Auswertung von Stufen, Parallelität, Ebenheit und mehr
Höheninformationen auf gesamter Fläche als 3D-Profilometrie zur Auswertung von Stufen, Parallelität, Ebenheit und mehr
Schnelles, flächenhaftes und berührungsfreies Abscannen mit Weißlicht in einer Fertigungs-Testzelle
Schnelles, flächenhaftes und berührungsfreies Abscannen mit Weißlicht in einer Fertigungs-Testzelle
Mehrere Prüfligne im großen Bildfeld platzieren und in einem Schuss messen binnen Sekunden
Mehrere Prüfligne im großen Bildfeld platzieren und in einem Schuss messen binnen Sekunden
Profilometriemessung an Elektronikbauteilen, hier die Pins in Höhe, Konformität und Wölbungen der BGA (Ball Grid Array)/ Kugelgitteranordnungen für integrierten Schaltungen
Profilometriemessung an Elektronikbauteilen, hier die Pins in Höhe, Konformität und Wölbungen der BGA (Ball Grid Array)/ Kugelgitteranordnungen für integrierten Schaltungen
Wie wird eine Oberfläche beschrieben? Fließende Übergänge von Form, Welligkeit und Rauheit
Wie wird eine Oberfläche beschrieben? Fließende Übergänge von Form, Welligkeit und Rauheit

Profilometrie als Qualitätskontrolle findet Einsatz in verschiedenen Gebieten:

  1. Qualitäts- und Forschungslabors nutzen Profilometer zur Analyse einzelner Prüflinge für ein tieferes Verständnis.
  2. Die optische, flächenhafte Profilometrie im Produktionskontext ermöglicht schnellere und hochzuverlässige Fertigungskontrollen.
  3. Inline-Qualitätskontrolle für sofortige, automatisierte Oberflächenprofilierung mit idealerweise Echtzeit-Rückmeldung an den Prozess.

Die messteechnische Lösung zur Profilometrie sollte sich idealerweise auf unterschiedlichen Prüflinge mit wechselnden optischen Eigenschaften, Geometrien und Materialien anpassen lassen. Hierbei weist die optische Methode der Weißlicht-Interferometrie Vorteile aus, da sie mit großem Messvolumen (XYZ) und Arbeitsraum Freiheiten bietet, schnell und flächenhaft ganze Werkstückoberflächen “abtastet” und dabei Millionen von Messpunkten binnen weniger Sekunden für eine fundierte, zuverlässigere Topografiebewertung erfasst.

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Technology guide optical surface metrology
Technology comparison in optical surface metrology

Leitfaden zu Arten der optischen Profilometrie

Jetzt registrieren und den exklusiven Technologie-Leitfaden herunterladen: Vor- und Nachteile der Profilometrie-Technologien - vertikale vs. laterale Auflösung, ideale Anwendungen, Profilometrie für glatte oder raue Oberflächen, Einfluss des Bildfeldes auf die Profilometrie... Wie unterscheiden sich diese Methoden der Profilometrie

  • Weißlicht-Interferometrie 
  • Konfokale Technologie
  • Fokusvariation
  • Chromatisch-konfokale Sensorik 

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dms-info@polytec.de