Oberflächenparameter in 2D & 3D
Oft machen mechanische Konstruktionen Vorgaben zu Oberflächenparametern eines Werkstückes und definieren Oberflächenparameter wie eine gewünschte Rauheit oder eine maximal tolerierte Welligkeit bzw. Ebenheit. Polytec TopMap 3D-Oberflächenmesstechnik hilft beim Überwachen und Einhalten dieser Oberflächenparameter, in dem sie nach dem Prinzip der Weißlichtinterferometrie berührungslos komplette Oberflächenprofile in Sekundenschnelle flächig abscannen, wofür taktile Verfahren lange Messzeiten benötigen. Sowohl 2D- als auch 3D-Oberflächenparameter (gemäß ISO 25178-2, ISO 4287, ISO 4288) können damit schnell und verlässlich ermittelt werden. Die Form der Visualisierung in 3D sämtlicher Oberflächendetails, sowie analog dazu die hochpräzise numerische Darstellung gibt beispielsweise Aufschluss über die exakte Stufenhöhe, Ebenheit und weitere Form- und Lageparameter. Dank feinster Abstufungen im nm- und Subnanometer-Bereich lassen diese Höheninformationen direkte Rückschlüsse auf den Fertigungsprozess zu. Die Auswertung der Oberflächenparameter beschreibt die Qualität und schließlich Funktionalität von Präzisionsmechaniken, detektiert frühzeitig Herstellungsfehler und ermöglicht rechtzeitig Falschteile auszuschließen. Das Feedback der Fertigungsmesstechnik dient letztlich auch der Prozesssteuerung, um Qualität und Konsistenz von Funktionsoberflächen hochzuhalten.
Formparameter
Wird ein Werkstück produziert, sind immer häufiger äußerst enge Fertigungstoleranzen einzuhalten, insbesondere im Bereich der technischen und funktionalen (Präzisions-) Oberflächen. Hier müssen die Hersteller die vielen verschiedenen Formtoleranzen wie Form, Größe und Textur sowie andere Lagetoleranzen wie Parallelität und Winkel präzise prüfen und quantifizieren, um sicherzustellen, dass alle kritischen Maße den geforderten Spezifikationen entsprechen. Die TopMap-Oberflächenmesstechnik wurde speziell entwickelt, um die anspruchsvollsten Toleranzen von präzisionsgefertigten Komponenten zu erfüllen.
Ebenheit & Parallelität
Bei Funktionsoberflächen ist es für die Einhaltung geforderten Toleranzen häufig von entscheidender Bedeutung, Kenngrößen wie Parallelität und Ebenheit zu messen. Solche Oberflächen müssen unter hohem Druck funktionieren und müssen als integraler Bestandteil des Fertigungsprozesses gleichbleibend hochwertig gefertig und hierfür ständig überprüft werden. TopMap optische 3D-Oberlfächenmessgeräte von Polytec sind speziell für die Automatisierung und einfache Bedienung konzipiert und liefern präzise Messdaten als zuverlässiges Feedback für den Produktionsprozess. TopMap ermöglicht die genaue Charakterisierung von Parallelität und Ebenheit über ein großes Sichtfeld (FoV) direkt in der Produktion und im Qualitätskontrolllabor und ermöglicht so eine schnelle und umfassende Charakterisierung kritischer Komponenten
Stufenhöhe
Die 3D-Prüfung der Stufenhöhe und auch von Winkeln zwischen mehreren Flächen erfordert häufig einen großen vertikalen Messbereich. Die Weißlichtinterferometer der TopMap Sensorfamilie bietet einen großen vertikalen Messbereich bis zu 70 mm und mehr, je nach Modell. Dieser große vertikale Bereich ermöglicht die Messung von kleinen und großen Stufenhöhen, auch auf schwer zugänglichen Oberflächen, wie z. B. tief eingelassenen Flächen. Die telezentrische Optik der TopMap vermeidet Abschattungseffekte und ermöglicht die zuverlässige Messung der relevanten Stufenhöhe von Mikrometer- bis Nanometerbereich. Eine automatische Bauteillageerkennung im großen Bildfeld macht eine aufwändige mechanische Fixierung oder gar Einzelmessung von Werkstücke überflüssig und erhöht die Effizienz in der Qualitätskontrolle.
Rauheit
Die exakte und wiederholgenaue Messung der Rauheit von Oberflächen ist in der Forschung, Entwicklung und Produktion oft entscheidend für die Einhaltung geforderter Toleranzen und für störungsfreie Produktionsprozesse. Nicht zuletzt hängt auch die Haltbarkeit, Zuverlässigkeit und Funktionserfüllung der späteren Produkte unmittelbar von der Oberflächenbeschaffenheit der Werkstücke ab. Für die Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit ist die Ermittlung der Rauheit ausschlaggebend, beispielsweise bei Zahnimplantaten, Dichtflächen oder Oberflächen für bestimmte Lackier- und Beschichtungsverfahren. Manche Anwendungen sind sogar auf eine gleichzeitige Bestimmung von Formabweichung und Rauheit angewiesen.
Mikrostrukturen
Mikrostrukturen sind kleinste Gebilde, die sehr häufig bereits bei kleinsten Beschädigungen in ihrer Funktionalität eingeschränkt sind. Physikalische Einwirkungen auf die mikrosystemtechnischen Messobjekte sollten unterbleiben. Daher ist ein weiterer wichtiger Aspekt bei der Oberflächencharakterisierung im Bereich der Mikrosystemtechnik das berührungslose und damit rückwirkungsfreie Messprinzip. Durch die optische, berührungsfreie Messmethode sind TopMap Weißlichtinterferometer die ideale Wahl für die Inspektion von Mikrostrukturen.
Schichtdicke
Überall dort, wo die Schichtdicke bestimmt werden soll, ob im Labor, in der Produktion oder sogar in Fertigungslinien, bietet Polytec Lösungen zur berührungslosen und rückwirkungsfreien Schichtdickenmessung. Die Einsatzgebiete für die Schichtdickenprüfung sind vielfältig und reichen von der Kontrolle von Lackierungen, der Überprüfung der gleichmäßigen Beschichtung bis hin zur Analyse des Verschleißes an Schraubverbindungen und mehr. Daher werden die optischen Messsysteme auch in zahlreichen Branchen eingesetzt, wie z.B. Automotive, Elektronik, Maschinenbau, Halbleiterindustrie, Forschung und Entwicklung.
Tabelle der Oberflächenkenngrößen gemäß ISO Standard
Die mathematische Beschreibung zahlreicher Oberflächenkenngrößen findet sich in diversen internationalen Normen. In der praktischen Anwendung sind insbesondere die Normenreihen ISO 4287 und ISO 13565 für die 2D-Kenngrößen sowie die Flächennorm ISO 25178 von Bedeutung. Diese Standards definieren und beschreiben die gängigen Texturparameter. Für die Vielzahl der Kenngrößen aus den Profilnormen findet sich ein Äquivalent in der erschienene Flächennorm. Darüber hinaus bietet die flächenhafte Auswertung der Topografie jedoch aufgrund der hinzukommenden Dimension zusätzliche Möglichkeiten.
Für die Vielzahl der Oberflächenkenngrößen aus den Profilnormen findet sich ein Äquivalent in der erschienene Flächennorm. Darüber hinaus bietet die flächenhafte Auswertung der Topografie jedoch aufgrund der hinzukommenden Dimension zusätzliche Möglichkeiten. Parameterfamilie ist jedoch insgesamt gemein, dass sie die funktionalen Unterschiede zwischen spitzkämmigen und rundkämmigen Oberflächen nicht abbilden kann. Das heißt, dass sehr unterschiedlich hergestellte und ausgestaltete Oberflächen dennoch die gleichen Ergebnisse für diese Oberflächenkenngrößen aufweisen können.