Oberflächenkontrolle an Elektronik, Halbleitern und Solartechnik
Die vielfältigen Lösungen von Polytec in der Halbleiterindustrie, für Elektronik und Solartechnik können Sie ideal auf Ihre Anwendungen anpassen. Im Bereich der Software beispielsweise durch anwendungsspezifische Nutzeroberflächen zur OK/nOK Analyse. Auch zum Überprüfen von elektronischen Kontakten bietet Ihnen Polytec Lösungen, sowohl für die Höhenauswertung von BGAs oder „Löt-Bumps“ als auch die Auswertung der Koplanarität von IC-Beinchen. Ebenso für das Packaging von High Power Laser Dioden finden Sie bei Polytec die richtigen Systeme.
Anwendungen
- Drahtbonden
![Drahtbonden Qualitätskontrolle mit optischer Messtechnik]( "Drahtbonden Qualitätskontrolle mit optischer Messtechnik")
Drahtbonden Qualitätskontrolle mit optischer Messtechnik - Gedruckte und flexible Elektronik
![Qualitätskontrolle und Messtechnik für gedruckte und flexible Elektronik]( "Qualitätskontrolle und Messtechnik für gedruckte und flexible Elektronik")
Qualitätskontrolle und Messtechnik für gedruckte und flexible Elektronik - Ball grid array (BGA)
![bump measurement on a ball grid array (BGA) as 3D profile]( "bump measurement on a ball grid array (BGA) as 3D profile")
bump measurement on a ball grid array (BGA) as 3D profile - High Power Laser Dioden
![Inspection of flatness and step-height on high power LED]( "Inspection of flatness and step-height on high power LED")
Inspection of flatness and step-height on high power LED - Mobilgeräte
![Production testing of components for mobile devices using 3D optical surface metrology]( "Production testing of components for mobile devices using 3D optical surface metrology")
Production testing of components for mobile devices using 3D optical surface metrology - OK / nOK Analyse
![Multi-sample pass-fail analysis in manufacturing]( "Multi-sample pass-fail analysis in manufacturing")
Multi-sample pass-fail analysis in manufacturing - Rauheitsmessung
![Non-contact surface roughness measurement in an areal 3D profile]( "Non-contact surface roughness measurement in an areal 3D profile")
Non-contact surface roughness measurement in an areal 3D profile - Schichtdickenmessung
![Schichtdickenmessung optisch, interferometrisch und Messtechnik zur Erfassung der Schichtdicke]( "Schichtdickenmessung optisch, interferometrisch und Messtechnik zur Erfassung der Schichtdicke")
Schichtdickenmessung optisch, interferometrisch und Messtechnik zur Erfassung der Schichtdicke - Ebenheitsmessung
![Surface flatness measurement and parallellism as form parameter]( "Surface flatness measurement and parallellism as form parameter")
Surface flatness measurement and parallellism as form parameter - Stufenhöhenmessung
![Messung von Stufenhöhe, Formparameter und 3D-Oberflächentopographie]( "Messung von Stufenhöhe, Formparameter und 3D-Oberflächentopographie")
Messung von Stufenhöhe, Formparameter und 3D-Oberflächentopographie
Unsere Lösung für Ihre Anwendung
Möchten Sie mehr über diesen Anwendungsbereich erfahren und darüber, wie unsere Produkte Sie bei Ihrer Arbeit unterstützen können?
Wir bieten individuelle Beratungen, kostenlose Machbarkeitsstudien und vieles mehr. Unsere PolyXperts unterstützen Sie auf jedem Schritt des Weges.