Weißlichtinterferometrie als flächenhaftes, optisches 3D-Messverfahren
Die moderne Weißlichtinterferometrie nutzt die Interferenzeffekte, die bei der Überlagerung des vom Messobjekt reflektierten Lichts mit dem von einem hochgenauen Referenzspiegel zurückgestreuten Licht auftreten. Das Messverfahren der Weißlichtinterferometrie – auch Kohärenz-Scanning-Interferometrie genannt – basiert auf dem Prinzip des Michelson-Interferometers, wobei der optische Aufbau eine Lichtquelle mit einer Kohärenzlänge im μm-Bereich enthält. An einem Strahlteiler wird der kollimierte Lichtstrahl in Mess- und Referenzstrahl aufgeteilt. Der Messstrahl trifft das Messobjekt, der Referenzstrahl einen Spiegel. Das vom Spiegel und Messobjekt jeweils zurückgeworfene Licht wird am Strahlteiler überlagert und auf einer Kamera abgebildet.
Kostenloses Webinar: Die neue ISO-Norm zur Rauheitsmessung
In diesem praxisnahen Webinar erfahren Sie alles über die Grundlagen der Rauheitsmessung. Wir bieten Ihnen Orientierungshilfe im Normungs-Dschungel und zeigen auf, was sich mit der neuen ISO-Norm 21920 für Sie ändert. Lernen Sie, was es bei der Rauheitsmessung Ihrer Oberflächen zu beachten gibt: Kompakt und kostenlos! Wir freuen uns auf Sie am 21. November, 10:00 Uhr.
Grundlagen der Weißlichtinterferometrie im Video (Kohärenz-Scanning-Interferometrie)
Stimmt der optische Weg für einen Objektpunkt im Messarm mit dem Weg im Referenzarm überein, kommt es für alle Wellenlängen im Spektrum der Lichtquelle zu einer konstruktiven Interferenz. Das Kamerapixel des betreffenden Objektpunktes hat dann die maximale Intensität. Für Objektpunkte, die diese Bedingung nicht erfüllen, hat das zugeordnete Kamerapixel eine niedrige Intensität. Die Kamera registriert folglich alle Bildpunkte, die dieselbe Höhe haben.
Messgeräte gemäß dem Prinzip der Weißlichtinterferometrie mit telezentrischem Aufbau erlauben eine simultane Charakterisierung der Oberflächentopografie selbst großer Flächen in einem einzigen Messvorgang und innerhalb kurzer Messzeit. Benötigen Sie dagegen eine hohe laterale Auflösung für mikroskopische Untersuchungen feinster Mikrotopografien, bieten sich unsere Mikroskopsysteme an, bei denen der optische Aufbau mitsamt Referenzarm in das Objektiv integriert ist.
Vertikale Auflösung unabhängig der Bildfeldgröße
Beim flächenbasierten Messverfahren der Weißlichtinterferometrie (Kohärenz-Scanning-Interferometrie) hängt die vertikale Auflösung nicht vom gewählten Objektiv ab. Es ist die einzige Messmethode, bei der die Auflösung unabhängig von der Bildfeldgröße ist.
Technologien im Vergleich: Vor- und Nachteile optischer Oberflächenmesstechnologien
Erfahren Sie mehr über die Stärken und Grenzen dieser vier gängigen Oberflächenmessverfahren im übersichtlichen Technologievergleich: Wie verhalten sich vertikale und laterale Auflösung, welche eignen sich für glatte Oberflächen oder besser zur hochauflösenden Rauheitsmessung, wo kommt Stitching ins Spiel?
- Weißlicht-Interferometrie
- Konfokale Mikroskopie
- Fokus-Variation
- Chromatische konfokale Sensoren
Polytec Magazin
"Optische Oberflächenmesstechnik ergänzt die taktile"
Prof. Dr. Albert Weckenmann über taktile und optische Methoden in der Oberflächenmesstechnik
Fokus auf Präzisionsoberflächen
Komplementäre Verfahren der optischen Oberflächenmesstechnik