Optisches Kompaktmessgerät für Oberflächendetails
Das Micro.View® ist das Kompaktsystem der optischen Profilometer-Serie TopMap zur optischen Messung von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology kann der 100 mm große z-Verfahrweg komplett als Messbereich verwendet werden - das Ganze bei einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Das Profilometer zeichnet sich durch seinen kompakten Tischaufbau mit integrierter Elektronik aus und besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit. Der Focus Finder ermöglicht das schnelle und einfache Messen.
Highlights
- Kompaktsystem für Oberflächendetails
- 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen
- 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology
- Exzellente laterale Auflösung
- Anwendungsspezifische Objektive verfügbar
Oberflächenmesstechnik mit Mikroskopoptik
Weißlicht erfasst selbst die feinsten Strukturdetails Ihrer Präzisionsoberflächen. Unsere Mikroskop-basierten Profilometer charakterisieren die Oberflächenbeschaffenheit und quantifizieren, wie rau oder glatt Ihre Werkstückoberflächen sind. Profitieren Sie von motorisierten Messungen, automatischer Positionierung, und dem automatischen Focus Finder, damit Sie sich auf Ihre Qualität konzentrieren können.
Kompakt-Profilometer für die Rauheitsmessung
Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld.
Charakterisieren Sie kleine Details und Mikrostrukturen berührungsfrei in 3D, werten Sie die flächige Oberflächenrauheit Sa mit sub-nm-Auflösung aus und bewerten Sie selbst steile Winkel mit interferometrischer Präzision. Micro.View und Micro.View+ sind Oberflächenprofiler basierend auf der Kohärenz-Scanning Technologie und weisen eine hervorragende vertikale Auflösung unabhängig der Vergrößerung auf. Mit Continuous Scanning Technology (CST), 100 mm Z-Verfahrweg und gleichzeitig 100 mm vertikalem Messbereich, 1,3 MP bis zu 5 MP-Kamera, einer Vielzahl an Objektiven von 2,5X (0,6X!) bis 111X einschließlich Optionen für lange Arbeitsabstände und Glas-Kompensation, voreingestellte ISO-Parameter wie ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287. ISO 13565, ISO 21920...
Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse
Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen.
Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!
Bei Qualitätskontrollen geht es um Zuverlässigkeit, Präzision und Erfahrung, und schließlich auch um Experten und Technologien, denen wir vertrauen können. Werfen Sie daher einen Blick hinter die Kulissen, erfahren Sie mehr über die Entwicklung und über die Menschen hinter TopMap. Lernen Sie die PolyXperts kennen und kommen Sie mit auf eine Reise!
Verwandte Produkte
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Die modulare Messstation bietet Konfigurationsmöglichkeiten für die verlässliche, hochgenaue Prüfung feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, während es die vollmotorisierte Positioniereinheit ermöglicht auch automatisch und in-line Bauteile zu prüfen.
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.
TMS Software
Die Topography Measurement System (TMS) Software für Polytecs TopMap- Messsysteme bieten in der aktuellen Version vielzählige Möglichkeiten Ihre Messergebnisse noch einfacher und noch schneller auszuwerten.
Operator Interface
Insbesondere bei produktionsnahen Umgebungen, wo Qualitätskontrollen verschiedener Bauteile gefragt sind, erleichtert das Softwaremodul QC Operator Interface Prüfroutinen von Präzisionsoberflächen enorm.
TopMap QC Package
Das QC Package sind smarte Zubehöroptionen und Add-ons für die Qualitätskontrollen mit TopMap optischer 3D-Oberflächenmesstechnik, speziell ausgelegt für verlässliche Inspektionen in rauer Produktionsumgebung.