In unserem Pressebereich finden Sie alle Meldungen inklusive druckfähiger Pressebilder aus unseren Technologiebereichen Schwingungsmesstechnik, Längen- und Geschwindigkeitsmessung, Oberflächencharakterisierung, industrielle Bildverarbeitung, Optische Systeme und Prozessanalytik. Die Pressemitteilungen und Fotos stehen Ihnen honorarfrei zur Verfügung, um Belegexemplare wird gebeten.

FirstLight SWIR-Kameras

Polytec ergänzt sein IR-Kameraportfolio durch die industrietauglichen InGaAs-Kameras des französischen Herstellers FirstLight Imaging.

Mehr erfahren
UV-Härten mit OmniCure S2000

Polytec stellt die neue Generation des UV-Punkthärte-Systems OmniCure S2000 Elite von Excelitas Technologies vor.

Mehr erfahren
Bundesbeste Auszubildende als Zerspanungsmechanikerin

Die ehemalige Polytec Auszubildende Larissa Heller wurde von der IHK für ihre Leistungen bei ihrer Abschlussprüfung als Bundesbeste ausgezeichnet.

Mehr erfahren
VibroGo: Portable laser vibrometer

VibroGo® ist die Laser-Schwingungsmesstechnik für unterwegs – von Forschung über Feldstudien bis hin zur Zustandsüberwachung von Maschinen und…

Mehr erfahren
Oberflächenmessung

In der industriellen Fertigung sind gleichermaßen Güte der produzierten Erzeugnisse sowie Effizienz entlang der gesamten Fertigungsprozesse die…

Mehr erfahren
Spezialklebstoff-Herstellung

Karlsbad/Maxdorf, 01.10.2021 – Polytec PT GmbH intensiviert die langjährige Partnerschaft mit CollTech R&D Center GmbH (vormals Wellmann Technologies)…

Mehr erfahren
Polytec Webmagazin überzeugt mit Anwendungs- und Forschungsberichten im Bereich der optischen Messtechnik

Mit seinem neuen kostenlosen Polytec Magazin launcht das weltweit tätige Messtechnik-Unternehmen Polytec ein digitales, modernes…

Mehr erfahren
 IVS-500: 3-in-1 non-contact measurement of vibration

In der modernen Qualitätssicherung sind objektive Qualitätskontrollen direkt in der Fertigungslinie essentiell, um hochwertige und langlebige Produkte…

Mehr erfahren
MSA-650 IRIS Micro System Analyzer for areal scanning through capped MEMS

Neue IR-optische Messtechnik zur Analyse des Bauteildynamik Si-verkappter Mikrostrukturen.

Mehr erfahren
Falschfarben-Darstellung der Abweichung zwischen CAD-Zeichnung und Objekt

Der High-End 3D-Stereo-Scanner Micron 3D green stereo bietet jetzt dank zwei 20 Megapixel-Detektoren die höchste Auflösung, die am Markt erhältlich…

Mehr erfahren