Einstiegslösung zur flächenhaften Oberflächenform- und -Geometriemessung
Das TopMap Metro.Lab von Polytec ist ein hochpräzises Weißlicht-Interferometer (Coherence Scanning Interferometer) mit einem großen vertikalen Verfahrweg und einer Auflösung im Nanometerbereich. Berührungsfreie Messungen von Ebenheit, Höhenabständen, Parallelität großer Flächen und Strukturen auch weicher und filigraner Materialien sind ideale Anwendungen für das Metro.Lab Topographie-Messsystem.
Als komplette Messstation ist das TopMap Metro.Lab bestens geeignet, wenn Sie großflächige Topographien nahezu aller Oberflächen vornehmen wollen. Der große vertikale Messbereich von 70 mm erlaubt Ihnen Messungen auch unter schwierigen Bedingungen bei Auflösungen im sub-Nanometer-Bereich.
komfortabel großes Einzelbildfeld
(erweiterbar auf 87 x 78 mm)
großer Z-Bereich
hohe vertikale Auflösung
Garantie + lebenslange Software-Updates
Highlights
- Berührungsloses, interferometrisches Messprinzip
- Messung selbst steiler Stufen (z.B. Bohrlöchern) durch telezentrische Optik
- Flexibel durch 70 mm Verfahrweg
- Schnelle flächenhaften Inspektionen mit großem Bildfeld
- Großes Messfeld bis ca. 80 x 80 mm mit erweiterter Version
- Intuitive und automatisierbare Software, Parameter gemäß DIN/ISO-Normen
- Für nahezu alle Oberflächen mit Smart Scanning Technolgie für unterschiedliche Reflektivitäten
- Integrierbar in staubgeschützte, vibrationsgedämpfte Workstation für Maschinenhallen
- 4 Jahre Garantie und lebenslange Software-Updates inklusive
Klein und pragmatisch bei Platzbedarf & Budget
Mit einem hochattraktiven Preis-/ Leistungsverhältnis ist das TopMap Metro.Lab die bedienerfreundliche und erschwingliche Lösung zur Qualitätskontrolle im Messlabor sowie im produktionsnahen Einsatz. Dabei überprüft es Werkstücke flächenhaft, wofür taktile Systeme viel mehr Zeit benötigen. Die offene Software-Architektur ermöglicht zudem das Programmieren von Routineaufgaben oder die Einrichtung eigener Benutzeroberflächen.
Optische Oberflächenmesstechnik - Alles im Blick
Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse
Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen.
Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!
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