Formtoleranzen von Oberflächen zuverlässig messen

Das TopMap Pro.Surf bestimmt Formabweichung schnell, zuverlässig und präzise. Das High-End-Oberflächenmessgerät TopMap Pro.Surf ist optimal zur Messung präzisionsgefertigter Oberflächen geeignet - im Messraum, produktionsnah und dank hoher Wiederholpräzision auch direkt in der Produktionslinie. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen und Parallelität bietet das TopMap Pro.Surf kundenspezifische Lösungen. Dabei bestechen insgesamt die räumliche Auflösung, die telezentrische Optik und die Geschwindigkeit.

 

Highlights

  • Schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung
  • Berührungsloses Messprinzip und rückführbare Messergebnisse
  • Smart Surface Scanning Technologie und Filterrad für nahezu alle Oberflächen
  • Großes Messvolumen 230 x 220 x 70 mm³
  • Telezentrische Optik misst selbst tiefliegende Stellen
  • Sicheres Probenhandling dank großem Arbeitsabstand
  • Automatische Bauteilerkennung ohne mechanische Aufnahme
  • Einfach bedienbare und automatisierbare Mess- und Auswerte-Software

Formabweichung messen - Ebenheit, Welligkeit, Stufenhöhe...

Dank des Weißlichtinterferometers bleiben keine Details unbemerkt. Ohne Stitching werden 2 Millionen Messpunkte auf einer großen Messfläche von 44 x 33 mm binnen weniger Sekunden erfasst - erweiterbar sogar auf 230 x 220 mm. Mit 70 mm vertikalem Messbereich und exzellenter vertikaler Auflösung unabhängig von den Bildfeldgrößen ergibt sich viel Spielraum für flexible Messaufgaben. Die telezentrische Optik erreicht dabei selbst schwer zugängliche Bereiche wie zum Beispiel Bohrungen.

In der neuen Generation hilft die noch schnellere Datenerfassung, Taktzeiten und erforderliche Geschwindigkeit einzuhalten. Integrierte Bildverarbeitungswerkzeuge wie automatische Mustererkennung (pattern recognition) beschleunigen die Qualitätssicherung enorm. Mehrere Prüflinge werden gleichzeitig mit einer Messung erfasst - ohne mechanische Aufnahme bei beliebiger Anordnung im Bildfeld.

Optische Oberflächenmesstechnik - Alles im Blick

Leitfaden: Grundlagen der Messsystemanalyse

Jede Messung - egal ob taktile oder optische Topografiemessung - ist mit einer Unsicherheit behaftet. Die gewonnenen Messwerte bilden die Basis für eine qualitätsgesteuerte Produktion und sind damit wichtiger Bestandteil der Qualitätssicherung. Die Richtigkeit eines durch die Messung getroffenen Rückschlusses hängt jedoch nicht nur von der Eignung der Kenngröße ab, sondern auch davon, wie genau und zuverlässig die Messwerte die realen Verhältnisse wiedergeben. Nur wenn der Messwert mit ausreichend geringer Unsicherheit bezogen auf die Merkmaltoleranz bestimmt werden kann, ist der Prüfprozess für die Prüfaufgabe geeignet. Dieser Leitfaden fasst die Kernpunkte und hilfreiche Ansätze der Messsystemanalyse (MSA) zusammen. 

Lesen Sie im Leitfaden, wie die Qualitätssicherung mit Messunsicherheit umgeht!

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