Rauheit einer Oberfläche messen
Die Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit im Detail lässt sich durch Rauheit und Formparameter und Welligkeit beschreiben. Die Rauheitsmessung findet oft mithilfe abtastender, also taktiler Messspitzen oder Tastschnittgeräten statt, wobei die Tastspitze über die Bauteiloberfläche geführt und dabei durch die Oberflächentextur vertikal ausgelenkt wird. Bei diesem Rauheits-Messverfahren wird die Oberfläche erstmal auf Basis eines 2D-Profils beschrieben Inwieweit diese Reduzierung der eigentlich komplexen Oberfläche auf einen Profilschnitt brauchbare Ergebnisse liefert, hängt maßgeblich von der Oberflächenbeschaffenheit und den funktionsrelevanten Anforderungen ab. Optische 3D-Rauheitsmessung stellt hierzu eine fundiertere Alternative für detailliertere und flächenhafte Aussagen über eine gesamte Werkstücksoberfläche.
Rauheit flächenhaft messen
Whitepaper zur Rauheitsmessung
Erfahren Sie im kostenfreien Whitepaper mehr zur Rauheitsmessung in Theorie und Praxis, warum Sie mit optischer 3D-Messtechnik Ihre Oberflächendetails schneller und umfangreicher charakterisieren als mit taktilen Messverfahren – und wie genau Sie von der 3D-Rauheitsauswertung mittels Weißlichtinterferometern profitieren.
Rauheitsmessung optisch vs. taktil
Taktile Rauheitsmessung liefert Höhendaten entlang einer Profilinie über kontaktbasiertes Abfahren der Oberfläche mit einer Messpitze. Weist die Oberfläche zufällig verteilte Strukturelemente auf, so wird das Ergebnis für den Rauheitskennwert stark von der gewählten Messposition beeinflusst. Die Beschreibung der Oberflächenbeschaffenheit als Profilschnitt genügt dann oftmals nicht mehr. Profilhafte Auswertungen erlauben nur eine begrenzte Aussage über die Ursache mangelnder Funktionsfähigkeit und beinhalten nur wenig Informationen für die Fertigungssteuerung.
Optisches Scanning wie bei der Kohärenz-Scanning Interferometrie (Weißlicht-Interferometrie) nutzt Licht als berührungsfreien Informationsträger und ermittelt präzise Höhendaten und damit Millionen von Messpunkten binnen Sekunden auf einer gesamten Fläche.
Rauheitsmessung und Auswertung nach ISO 25178 oder ISO 21920
Im VIdeo zeigt sich, wie schnell Sie die flächenhafte Oberflächenrauheit an mechanischen Bauteilen, z.B. polierten Oberflächen, mit optischen Profilometern wie den TopMap Weißlicht-Interferometern abscannen und auswerten. Einfach Vergrößerung wählen, und der motorisierte Revolver sowie automatischer Focus Finder unterstützen bei der schnellen und flächenhaften 3D-Rauheitsmessung und -auswertung. Verwalten und laden Sie individuelle und vordefinierte Messrezepte für vereinfachte Schnellstarts zur Rauheitsauswertung und erstellen Sie per Mausklick individuelle Prüfberichte und teilen Sie Ihre Erkenntnisse über die Rauheitsauswertung z.B. hinsichtlich ISO 25178 oder der jüngeren ISO 21920.
Individuelle Rauheitsmessung und Auswertung?
Flächenhafte 3D-Rauheitsmessdaten
Die dreidimensionale Rauheitsmessung weist diese Einschränkungen nicht auf. Sie liefert nicht nur ein für die menschliche Auffassungsgabe leichter greifbares Abbild der Oberfläche, sondern erlaubt auch eine funktions- und strukturorientierte Auswertung. Aus den flächenhaft vorliegenden Messdaten können wiederum mühelos auch Linienprofile extrahiert und nach den klassischen Regeln der profilhaften Rauheitsauswertung bewertet werden. Im Unterschied zur taktilen Rauheitsmessung erfolgt die optische 3D-Rauheitsmessung berührungslos und rückwirkungsfrei, wodurch empfindliche Oberflächen nicht durch die Messung beeinträchtigt und beschädigt werden.
Flächenhaft ermittelte Rauheitsmessdaten geben ein vollständiges und leicht erfassbares Bild der gesamten Oberfläche wieder. Dagegen enthält ein Messprofil immer nur einen kleinen Ausschnitt des gesamten Bildes und ist zudem weniger intuitiv zu erfassen.
ISO-Richtlinien für flächenhafte und profilhafte Auswertung
Die Messketten für die flächen- bzw. profilhafte Auswertung werden in den jeweiligen Normenreihen ISO 25178 bzw. ISO 4287 beschrieben und unterscheiden sich im Detail voneinander. Polytec bietet Schulungen und Trainings an, um Kunden und Nutzer sowie Neulinge in der Rauheitsanalyse nach gängigen Normen, Tricks und Auswertemöglichkeiten weiterzubilden. Sprechen Sie uns an und laden Sie sich zum Einstieg das kostenfreie Paper zur Rauheitsmessung herunter!
Zugehörige Produkte
TopMap Micro.View
Micro.View® ist das Kompaktsystem der TopMap-Profilometer Serie als Einstieg in die optische Messung von Rauheit und Mikrostrukturen - für die kosteneffiziente Qualitätskontrolle von Toleranzen und Oberflächendetails an Präzisionsbauteilen.
TopMap Micro.View+
Micro.View®+ ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Die modulare Messstation bietet Konfigurationsmöglichkeiten für die verlässliche, hochgenaue Prüfung feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Focus Finder und Focus Tracker halten den optimalen Fokuspunkt, während es die vollmotorisierte Positioniereinheit ermöglicht auch automatisch und in-line Bauteile zu prüfen.
TopMap Pro.Surf+
Das neue All-in-one System von Polytec: Die Präzision eines Weisslicht-Interferometers ergänzt um chromatisch-konfokale Sensoren, um Formabweichungen und Rauheitsermittlungen mit einem Gerät zu meistern. Das TopMap Pro.Surf+ ermittelt großflächig und charakterisiert dabei Strukturen mit Nanometer-Auflösung.
