Ebenheit und Parallelität zerstörungsfrei und blitzschnell messen
Bei Funktionsoberflächen ist es für die Einhaltung geforderten Toleranzen häufig von entscheidender Bedeutung, Kenngrößen wie Ebenheit und Parallelität zu messen. Beispiele für derartige Messaufgaben aus der industriellen Fertigung gibt es viele, etwa Dichtflächen in der Druck- und Vakuumtechnik, transparente Folien für Displays, Halbleiterbauelemente sowie diverse Metall- und Keramikoberflächen. Die TopMap-Messsysteme von Polytec bestimmen auch andere Formparameter wie z.B. Welligkeit einfach und zuverlässig. Sie erlauben es, direkt in der Produktionsumgebung oder in Prüflaboren flächenhaft Ebenheit und Parallelität auf einem großen Bildfeld zu messen und damit eine schnelle und vollständige Charakterisierung der Werkstückoberflächen zu erzielen.
Ebenheit und Parallelität messen mit der TopMap Familie
Hersteller weltweit setzen daher auf Polytec TopMap Geräte, um Oberflächenkenngrößen wie Ebenheit und Parallelität ihrer Produktoberflächen zu messen. Die Topografiemesssysteme mit Weißlicht-Interferometrie-Technologie verfügen über einen großen vertikalen Messbereich mit einer Auflösung im Nanometer-Bereich – und das völlig unabhängig von der Bildfeldgröße – und überprüfen Formtoleranzen in kürzester Zeit rückwirkungsfrei. So ist es Herstellern möglich, Ebenheit und Parallelität äußerst schnell und komfortabel zu messen, auch bei großen Flächen und auf fast allen Materialien. Die Weißlicht-Interferometer der TopMap Familie von Polytec erfassen die komplette Topografie eines Werkstücks oder Objekts mit nur einer Messung und vermeiden Stitching.
Passt sich jedem Prozess an
Die Oberflächenmessgeräte erlauben dank der mitgelieferten programmierbaren Mess- und Auswertesoftware Anpassungen an die verschiedenen Prozessabläufe. Zusätzlich bietet Polytec das umfangreiche QC Package: Mit ihm ist es außerdem möglich, Messeinstellungen vorab zu definieren und Ebenheit und Parallelität mit nur einem Klick automatisiert zu messen. Auch eine standortübergreifende Qualitätskontrolle und die Minimierung äußerer Einflüsse wie Lärm und störende Vibrationen sind mit dem QC Package von Polytec ganz einfach umsetzbar.
Zugehörige Produkte
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap QC Package
Das QC Package sind smarte Zubehöroptionen und Add-ons für die Qualitätskontrollen mit TopMap optischer 3D-Oberflächenmesstechnik, speziell ausgelegt für verlässliche Inspektionen in rauer Produktionsumgebung.
