Materialverteilung auf Funktionsflächen kontrolliert modifizieren
Durch die Charakterisierung der Materialverteilung auf Funktionsflächen kann die Leistung der Produkte modifiziert und den Anforderungen entsprechend optimiert werden. Mit Weißlichtinterferometern der TopMap-Serie können Sie solche Oberflächen schnell und präzise erfassen, egal ob in Ihrem Messlabor oder in der Produktionsumgebung. Entscheiden Sie sich daher für die Oberflächenmesssysteme von Polytec, konkret für die Modelle der TopMap-Familie.
Reibung, Rauheit und Relativbewegung von Komponenten
In einigen Anwendungen kann eine unerwünschte relative Bewegung von sich berührenden Oberflächen durch eine erhöhte Reibung vermieden werden, in dem auf einer dieser Flächen diamantene Partikel verteilt werden. Durch die Modifikation von Größe, Form und Menge wird die gewünschte Reibung erzielt.
Zugehörige Produkte
TopMap Pro.Surf
Optimal für die schnelle und präzise 3D-Oberflächen-Charakterisierung. Die flächenhafte Messung stellt sicher, dass kein Detail übersehen wird. Kurze Messzeiten und ein großes Gesichtsfeld zeichnen das TopMap Pro.Surf aus.
TopMap Metro.Lab
Als komplette Messstation eignet sich das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen. Das sehr gute Preis-/Leistungsverhältnis macht es auch für kleinere Firmen mit geringerem Aufgabenvolumen attraktiv.
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